产品介绍：

由于集成电路集成度以及时钟速率的不断提高，PCB板上存在大量杂散场和杂散电流，并以磁场形式相互耦合，导致产生GHz以上级别的辐射骚扰。由于PCB板上大量安装高密度SMD器件，只有使用高分辨率探头，才能真正找出电磁干扰的问题所在。

OI-IC系列无源近场探头如果安装在OI-EAS系列EMI扫描仪上，配套相应自动测试软件和干扰接收机，可实现对PCB板上布线、元器件或IC引脚的电磁泄漏场的自动扫描测试。

在任何PCB板上，很少存在纯粹的电场或磁场辐射。分别使用电场和磁场两种探头，来了解骚扰的本质，并确定导致该问题的根本原因，这些对于排查骚扰十分重要。一般情况下，磁场泄露是由于PCB板走线、线缆等导致的，而电场泄露则是由相邻走线和信号平面之间的电压差造成的。不同信号路径设计将会导致不同区域内不同类型电场或磁场占主导地位；因此，同时具备观测以上两个方面场的分析功能，能够在测量分析过程中带来更多的灵活性。

根据近场探头探测场强量的不同，OI-IC系列近场探头分为电场探头（OI-ICE40）和磁场探头（OI-ICH40）。

OI-ICH40是一款频率高达40GHz，用于测量磁场强度的无源近场探头。测量头通过特殊的阻尼系统与电缆屏蔽层分离。此外，探头还包含一个电流衰减器；探头具有50Ω的内部匹配网络。近场探头的特殊探头尖端可直接在IC引脚或单个引脚上进行测量，用于定位磁场源的导线轨迹。

产品参数：

                        校准因子（dB）

订货信息：

OI-ICH40：无源磁场探头，频率40GHz

标准配件：

OI-2.92mm（M-M）射频连接线，长1米：1根

OI-Case01 塑料携带箱：1个

说明书：1本