OItek带您在PCB板上“秀干扰”

研发好工具：定位电磁场敏感点、测量瞬态电磁场空间分布、评估电路或电路板对瞬态电磁场抗干扰能力！

OIE1研发阶段抗扰度测试套件也为抗干扰开发系统，用来模拟所开发出来设备的干扰过程，干扰电流、电场和磁场直接注入到电子模块，以不同方式来确定电路板上的敏感结构，了解耦合机制，使设备达到最佳抗干扰能力。

众所周知，产品抗干扰设计来源于企业对产品质量的追求，同时也是电磁兼容性测试（EMC）标准的要求。同时，在抗干扰测试和设计中，由于瞬态干扰具有快速和宽频谱等特点，传统示波器和频谱分析仪等手段，都无法准确测量瞬态电磁场和很难测量干扰电流的路径。以往产品的抗干扰设计，只能在产品定型后最终测试阶段来考虑；此时，采取的手段是屏蔽或滤波，对外界干扰进行屏蔽隔离或者滤波直接引到接地系统。海洋仪器推出的抗干扰开发系统，具备的多种组成工具，帮助工程师采用多种策略来检测电路或印刷电路板上的抗干扰问题，尤其抗瞬变突发干扰能力。

OIE1抗干扰开发系统在近场电磁兼容性（EMC）测试中，符合以下EMC突发干扰测试项目：GB/T-17626.4（IEC61000-4-4）电快速瞬变脉冲群抗扰度试验、GB/T-17626.2（IEC61000-4-2）静电放电抗扰度试验、GJB151A/152A-CS115电缆束注入脉冲激励传导敏感度、GJB151A/152A-RS105瞬变电磁场辐射敏感度。

五大组合和措施实现抗干扰调试。