OIE1抗干扰测试系统中文手册
文档信息
- 标 签：OIE1,抗干扰测试,系统,中文手册
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- 上传日期：2016-07-07
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- 文件大小：1.85 MB
文档简介：
对被测物施加突发干扰，再现被测物出现故障的现象；采用不同方式，向电子模块直接注入突发性电磁场干扰，定位电路板上的电磁薄弱点，理解耦合激励，并完成最优化的设计修改。本资料为E1近场抗干扰开发系统的中文说明书。
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