- GTEM小室
- GTEM小室可以代替电磁兼容暗室进行辐射抗扰度测试，具有工作频率宽、内部场强均匀、屏蔽效能好，试验中能量利用率高等优点。
- E1抗干扰性开发系统
- E1抗干扰性开发系统是一套集成电路板开发过程中进行抗干扰分析的 EMC工具系统。采用E1抗干扰开发系统，能够快速精准地定位脉冲群干扰和静电放电干扰。
- S2瞬态磁场探头组
- 电子设备和电子元件在干扰作用下会产生快速瞬态脉冲磁场，S2探头组中包含的有源和无源磁场探头可以无反馈地测量这些快速瞬态脉冲磁场。
- 射频辐射敏感度测试仪OI-RS04
- 射频辐射敏感度测试仪OI-RS04
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