硬盘老化试验测试设备方案

　　方案介绍

　　根据客户提出硬盘的老化测试需求，我司开发此产品为硬盘老化测试提供工作电源、实时监测硬盘功耗、硬盘工作异常，通过labview软件，轻松实现长时监控硬盘老化试验过程中电压、电流、温度、功率波动、并数据记录。

　　硬盘老化试验测试设备外观示意图

　　测试说明

　　测试系统采用标准化、模块化、结构化设计，基于PCI控制总线技术实现多路模拟量采集，信号调理箱采集被测硬盘工作的电压、电流，并通过模拟量上传至工控机，表贴温度传感器采集被测硬盘的温度。测试工装为被测硬盘提供接插环境，并对测试资源进行整合。

　　硬盘老化试验测试设备硬件框图

　　产品特点

　　基于PCI控制总线技术，轻松应对多个硬盘老化测试。