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硬盘老化试验测试设备方案

  方案介绍

  根据客户提出硬盘的老化测试需求,我司开发此产品为硬盘老化测试提供工作电源、实时监测硬盘功耗、硬盘工作异常,通过labview软件,轻松实现长时监控硬盘老化试验过程中电压、电流、温度、功率波动、并数据记录。

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  硬盘老化试验测试设备外观示意图

  测试说明

  测试系统采用标准化、模块化、结构化设计,基于PCI控制总线技术实现多路模拟量采集,信号调理箱采集被测硬盘工作的电压、电流,并通过模拟量上传至工控机,表贴温度传感器采集被测硬盘的温度。测试工装为被测硬盘提供接插环境,并对测试资源进行整合。

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  硬盘老化试验测试设备硬件框图

  产品特点

  基于PCI控制总线技术,轻松应对多个硬盘老化测试。

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